Куц, Юрій ВасильовичЛисенко, Юлія ЮріївнаДугін, Олександр Леонідович2018-05-102018-05-102014Лисенко, Ю. Ю. Оцінка товщини діелектричного покриття на провідній основі імпульсним вихрострумовим методом / Ю. Ю. Лисенко, Ю. В. Куц, О. Л. Дугін // «Приладобудування: стан і перспективи» : збірник тез доповідей XІІІ Міжнародної науково-технічної конференції, 23-24 квітня 2014 року, м. Київ, Україна / НТУУ «КПІ», ПБФ. – Київ, 2014. – С. 184–185.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/22879ukзагасаннячастотаімпульсний вихрострумовий контрольімпульсний режим збудженняОцінка товщини діелектричного покриття на провідній основі імпульсним вихрострумовим методомArticleС. 184-185620.179.14«Приладобудування: стан і перспективи», XІІІ Міжнародна науково-технічна конференція