Андрієнко, В. О.Іванченко, В. В.Гончаров, А. В.Скорина, Є. В.Антонюк, В. С.Andrienko, V. O.Ivanchenko, V. V.Goncharov, A. V.Skorina, E. V.Antonjuk, V. S.Андриенко, В. А.Иванченко, В. В.Гончаров, А. В.Скорина, Е. В.Антонюк, В. С.2015-03-132015-03-132014Прогнозування терміну надійної експлуатації інтегральних мікросхем радіотехнічних пристроїв / Андрієнко В. О., Іванченко В. В., Гончаров А. В., Скорина Є. В., Антонюк В. С. // Вісник НТУУ «КПІ». Приладобудування : збірник наукових праць. – 2014. – Вип. 48(2). – С. 125–130. – Бібліогр.: 8 назв.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/10888ukверифікація елементів пам’ятістрок службиінтегральні мікросхемипрогнозуванняатомно-силова мікроскопіяverification of memory cellstenure of employmentintegral microchipsprognosticationatomic-force microscopyверификация ячеек памятисрок службыинтегральные микросхемыпрогнозированиеатомно-силовая микроскопияПрогнозування терміну надійної експлуатації інтегральних мікросхем радіотехнічних пристроївPrognostication of time of reliable exploitation of integral microcircuits of radiotechnical devicesПрогнозирование времени надежной эксплуатации интегральных микросхем радиотехнических устройствArticleС. 125-130519.718.2