Чирчик, С. В.2020-09-222020-09-222009Чирчик, С. В. Безконтактний спосіб вимірювання рекомбінаційних параметрів носіїв заряду в напівпровідниках / С. В. Чирчик // Наукові вісті НТУУ «КПІ» : міжнародний науково-технічний журнал. – 2009. – № 6(68). – С. 10–16. – Бібліогр.: 22 назв.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/36351ukArticleС. 10–16