Наконечна, Анастасія Вікторівна2020-07-082020-07-082020Наконечна, А. В. Сучасні методи дефектоскопії / А. В. Наконечна // ХIII Науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Погляд у майбутнє приладобудування», 13-14 травня 2020 р., м. Київ, Україна : збірник праць конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020. – С. 293-296. – Бібліогр.: 7 назв.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/34878ukдефектоскопіядефекткласифікація дефектоскопівнеруйнівний контрольArticleC. 293-296620.179.1