Брюхацька, М. С.Катасонов, А. А.Низкова, А. I.Лiзунов, В. В.Кононенко, О. С.Молодкiн, В. Б.2019-10-082019-10-082019Багатопараметрична дiагностика характеристик мiкродефектiв на основi евристичної моделi деформацiйних залежностей повної інтегральної інтенсивностi / М. С. Брюхацька, А. А. Катасонов, А. I. Низкова, В. В. Лiзунов, О. С. Кононенко, В. Б. Молодкiн // XVII Всеукраїнська науково-практична конференцiя студентiв, аспiрантiв та молодих вчених «Теоретичнi i прикладнi проблеми фiзики, математики та інформатики» (Україна, м. Київ, 25-26 квiтня 2019 р.) : матерiали конференцiї. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2019. – С. 68–69. – Бібліогр.: 4 назви.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/29717ukiнтегральна динамiчна дифрактометрiядифузне розсiюваннямiкродефектиБагатопараметрична дiагностика характеристик мiкродефектiв на основi евристичної моделi деформацiйних залежностей повної інтегральної інтенсивностiArticleС. 68–69548.7