Циганок, Борис АрхиповичОлійник, Остап Олегович2017-06-142017-06-142017Олійник, О. О. Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки : дис. … канд. техн. наук : 05.27.01 – твердотільна електроніка / Олійник Остап Олегович. – Київ, 2017. – 165 л.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/19684ukпідвищення чутливостівеличина двопроменезаломленнявимірювання фазимодуляційна поляриметріяфотопружний мікроскопсенсор переміщенняsensitivity increasethe value of the birefringencethe phase measurementmodulation polarimetryphotoelastic microscopedisplacement sensorповышение чувствительностивеличина двулучепреломленияизмерения фазымодуляционная поляриметрияфотоупругий микроскопсенсор перемещенияПідвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електронікиThesis Doctoral165 л.621.382.049.774:681.723.2]:535.568](043.3)