Молчанов, Віталій ІвановичПашков, Валерій МарковичТатарчук, Дмитро ДмитровичФранчук, Антон СергійовичMolchanov, V. І.Pashkov, V. M.Tatarchuk, D. D.Franchuk, A. S.Молчанов, В. И.Пашков, В. М.Татарчук, Д. Д.Франчук, А. С.2016-08-312016-08-312015Вимірювання НВЧ параметрів діелектричних матеріалів методом тонкого діелектричного резонатора / В. І. Молчанов, В. М. Пашков, Д. Д. Татарчук, А. С. Франчук // Електроніка та зв'язок : науково-технічний журнал. – 2015. – Т. 20, № 1(84). – С. 23–26. – Бібліогр.: 7 назв.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/17458ukдіелектрична проникністьтангенс кута діелектричних втраттонкий діелектричний резонаторНВЧ параметричутливість методуsemiconductor materialsthe loss tangentthe dielectric permittivitythe frequency dependence of lossesthe conductivitythe quasi-Debye mechanismдиэлектрическая проницаемостьтангенс угла диэлектрических потерьдиэлектрический резонаторСВЧ параметрычувствительность методаВимірювання НВЧ параметрів діелектричних матеріалів методом тонкого діелектричного резонатораMeasurement of the microwave parameters of the dielectric materials by the method of thin dielectric resonatorИзмерение СВЧ параметров диэлектрических материалов методом тонкого диэлектрического резонатораArticleC. 23-26621.372.41