Божко, К. М.Мушкет, К. Я.Однорог, О. В.Сидоренко, С. Ю.2026-06-172026-06-172026Оцінювання теплової потужності дефектів сонячної панелі / Божко К. М., Мушкет К. Я., Однорог О. В., Сидоренко С. Ю. // Приладобудування: стан і перспективи : збірник матеріалів XXV Міжнародної науково-технічної конференції, [Київ], 12-13 травня 2026 р. / КПІ ім. Ігоря Сікорського. – Київ, 2026. – С. 166-171. – Бібліогр. 4 назви.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/81741Для контролю сонячних елементів і панелей з метою виявлення в них прихованих дефектів традиційно використовують метод інфрачервоної термографії. Теоретичним підґрунтям для застосування інфрачервоної термографії у задачах фотовольтаїки є фундаментальна праця Отвіна Брайтенштайна із співавторами. Ще раніше колективом інституту Фраунгофера було встановлено зв’язок між характером зображення теплового поля сонячного елементу та його послідовним опором. Так були закладені основи для діагностики сонячних елементів і панелей на основі інфрачервоної термографії. Дослідження в цьому напрямку проводяться також в КПІ ім. Ігоря Сікорського.ukсонячний елементсонячна панельтеплова потужність дефектуArticleС. 166-171519.713