Зилевіч, Максим Олегович2020-02-282020-02-282018Зилевіч, М. О. Пристрій для дослідження надійності провідникових з’єднань (AuAl) в сучасних інтегральних мікросхемах / М. О. Зилевіч // XI Міжнародна науково-технічна конференція молодих вчених «Електроніка-2018» : збірник статей. – Київ, 2018. – С. 169-172.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/32002ukнадійністьreliabilityАтмега32Atmega32АЦПADCчотирьох провіднийfour-wireвимірювання опоруresistance measurmentПристрій для дослідження надійності провідникових з’єднань (AuAl) в сучасних інтегральних мікросхемахArticleС. 169-172621.391.26«Електроніка-2018», XI Міжнародна науково-технічна конференція молодих вчених