Баженов, Виктор ГригорьевичГльойник, К. А.2018-11-122018-11-122016Баженов В. Г. Особенности проектирования вихретоковых дефектоскопов на микроконтроллерах / Баженов В. Г., Гльойник К. А. // Научни Известия НТСМ. – 2016. – № 1(187). – C. 46-49. – Бібліогр.: 9 назв.1310-3946https://ela.kpi.ua/handle/123456789/25020rufrequency synthesizerlow costmicrocontrollersDDSeddy current flaw detectorDSP processorssmall sizedigitalОсобенности проектирования вихретоковых дефектоскопов на микроконтроллерахDesign features of eddy current flaw detectors on the microcontrollersArticleC. 46-49