Syeryy, K. M.2020-05-182020-05-182020-05Syeryy, K. M. System for definition of defect’s coordinate / Syeryy K. M. // XІХ Міжнародна науково-технічна конференція «Приладобудування: стан і перспективи», 13-14 травня 2020 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020. – С. 139-141. – Бібліогр.: 5 назв.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/33558ennon-destructive testingscanning systemsphoto receiverArticleC. 139-141621.190