Диденко, Юрий ВикторовичДіденко, Юрій ВікторовичDidenko, Y.2016-09-132016-09-132015Диденко Ю. В. Частотные и температурные зависимости диэлектрических потерь в полупроводниках на СВЧ / Ю. В. Диденко // Електроніка та зв'язок : науково-технічний журнал. – 2015. – Т. 20, № 3(86). – С. 9–11. – Бібліогр.: 3 назви.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/17553ruполупроводниковые материалытангенс угла потерьдиэлектрическая проницаемостьчастотная зависимость потерьпроводимостьквазидебаевский механизмнапівпровідникові матеріалитангенс кута втратдіелектрична проникністьчастотна залежність втратпровідністьквазідебаєвський механізмsemiconductor materialsthe loss tangentthe dielectric permittivitythe frequency dependence of lossesthe conductivitythe quasi-Debye mechanismЧастотные и температурные зависимости диэлектрических потерь в полупроводниках на СВЧЧастотні та температурні залежності діелектричних втрат у напівпровідниках на НВЧFrequency and temperature dependences of the dielectric loss in semiconductors at UHFArticleС. 9-11621.372.41