Заворотний, Віктор ФедоровичВасильєв, Андрій Олегович2018-05-212018-05-212018Васильєв, А. О. Метод прогнозування виходу придатних інтегральних мікросхем : магістерська дис. : 153 Мікро- та наносистемна техніка / Васильєв Андрій Олегович. – Київ, 2018. – 93 с.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/22977ukтестування мікросхемавтоматичне тестувальне обладнаннястатистичний аналізvlsi testingautomatic test equipmenttime dependent defectbig dataМетод прогнозування виходу придатних інтегральних мікросхемMaster Thesis93 c.