Шокун, А. Д.Низкова, Г. І.Білоцька, А. О.Кононенко, О. С.Демчик, І. І.Макаренко, Л. І.Катасонов, А. А.Молодкін, В. В.Лізунов, В. В.2023-11-212023-11-212023Підвищення діагностичних можливостей методу деформаційних залежностей повної інтегральної інтенсивності динамічної дифракції для випадку динамічного «тонкого» кристалу / А. Д. Шокун, Г. І. Низкова, А. О. Білоцька, О. С. Кононенко, І. І. Демчик, Л. І. Макаренко, А. А. Катасонов, В. В. Молодкін, В. В. Лізунов // XXI Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Теоретичні і прикладні проблеми фізики, математики та інформатики» (Україна, м. Київ, 11-12 травня 2023 р.) : матеріали конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2023. – С. 80-82.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/62354У цій статті розглядались зразки монокристалів Si з різними дефектними структурами у наближенні динамічно «тонкого» кристалу. Було встановлено зв’язок між параметрами деформаційної залежності дифузної складової повної інтегральної інтенсивності динамічної дифракції та характеристиками мікродефектів.ukдифракціякристали з мікродефектамидинамічна дифракціяповна інтегральна інтенсивністьдеформаційна залежністьArticleС. 80-82