Мамчур, Наталія Дмитрівна2020-07-082020-07-082020Мамчур, Н. Д. Використання електронно-оптичних дефектоскопів у неруйнівному контролі / Н. Д. Мамчур // ХIII Науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Погляд у майбутнє приладобудування», 13-14 травня 2020 р., м. Київ, Україна : збірник праць конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020. – С. 273-276. – Бібліогр.: 7 назв.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/34896ukдефектоскопіянеруйнівний контрольелектронно-оптичний дефектоскопдефектArticleС. 273-276620.179.1