Богач, М. В.Бежан, П. Л.Литвиненко, В. М.Самойлов, М. О.Шутов, С. В.Bohach, N. V.Bezhan, P. L.Lytvynenko, V. N.Samoylov, M. O.Shutov, S. V.Богач, М. В.Бежан, П. Л.Литвиненко, В. М.Самойлов, Н. А.Шутов, С. В.2013-11-182013-11-182013Покращення зворотних характеристик діода Шотткі з охоронним кільцем / М. В. Богач, П. Л. Бежан, В. М. Литвиненко [та ін.] // Electronics and Communications : научно-технический журнал. – 2013. – № 4(75). – С. 9–13. – Библиогр.: 4 назв.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/5796ukгетеруваннядіод Шотткіоптимізаціяохоронне кільцеструктурні дефектидомішкиgetteringdiode Schottkyoptimizationsafety ringstructural defectsimpuritiesгеттерированиядиод Шотткиоптимизацияохранное кольцоструктурные дефектыпримесиПокращення зворотних характеристик діода Шотткі з охоронним кільцемImproving the return perfomance of Schottky diode with a security ringУлучшение обратных характеристик диода Шоттки с охранным кольцомArticleС. 9-13621.382.28