Lysenko, I.Mirchev, Y.Kuts, Y.Levchenko, О.2023-08-232023-08-232023Analysis of normative documentation on the use of array eddy current probes / Lysenko I., Mirchev Y., Kuts Y., Levchenko О. // XХIІ Міжнародна науково-технічна конференція “Приладобудування: стан і перспективи”, 16 – 17 травня 2023 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2023. – С. 267-269. – Бібліогр.: 7 назв.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/59395368 c.enarray probeseddy current nondestructive testingflexible probessurface defectsEddy Current ArraysensitivitycalibrationAnalysis of normative documentation on the use of array eddy current probesArticleС. 267-269.620.179.14