Верцанова, Олена ВікторівнаАбраімов, Олексій Валерійович2022-02-072022-02-072021Абраімов, О. В. Підготовка зразків для металографічного контролю якості : магістерська дис. : 153 Мікро- та наносистемна техніка / Абраімов Олексій Валерійович. – Київ, 2021. – 73 с.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/46208Об’єктом дослідження є багатошаровий конденсатор. Предметом дослідження є визначення основних характеристик, необхідних для металографічного аналізу структури багатошарового конденсатору та визначення методу пробопідготовки. Мета роботи – розробка методики пробопідготовки для отримання оптичного зображення багатошарового конденсатору. В першому розділі описується поняття мікроскопії, її методи та принцип дії металографічного мікроскопа. В другому розділі описані основні методи світлової мікроскопії, деякі методи порівнянні між собою, виведені позитивні та негативні сторони кожного з методів. Третій розділ присвячений підготовці зразків для подальшого металографічного аналізу. Було розглянуто кожен з етапів пробопідготовки та розібрані проблеми, що можуть виникати на кожного з цих етапів. В четвертому розділі описано процес отримання оптичного зображення керамічного багатошарового конденсатора. Розібрана методика підготовки такого зразка для металографічного контролю якості. В п’ятому розділі описується розробка стартап проекту та оцінюється його рентабельність та конкурентоспроможність.ukметалографічний аналізпробопідготовкабагатошаровий керамічний конденсаторMaster Thesis73 с.