Шевченко, В. В.2022-07-212022-07-212022Шевченко, В. В. Контроль якості деталей приладів в умовах автоматизованого виробництва / Шевченко, В. В. // XХI Міжнародна науково-технічна конференція “Приладобудування: стан і перспективи”, 17 – 18 травня 2022 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2022. – С. 72-73. – Бібліогр.: 4 назви.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/49198ukякість поверхні деталіелектромагнітний методексплуатаційні характеристики деталіавтоматизація контролюпродуктивністьсобівартістьArticleC. 72-73681.2.538.5