Денбновецький, Станіслав ВолодимировичЛещишин, Олександр ВолодимировичСлободян, Ніна Вячеславівна2023-10-302023-10-302003Денбновецький, С. В. Поглинання рентгенівського випромінювання в кремнію та германію / Денбновецький С. В., Лещишин О. В., Слободян Н. В. // Электроника и связь. – 2003 – №20. – С. 109-112.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/61867Розраховано поглинання рентгенівського випромінювання в однорідних зразках кремнію та германію в залежності від конструктивних особливостей рентгенівської трубки (матеріалу та кута нахилу анода, матеріалу та товщини вихідного вікна), прискорюючої напруги та анодного струму, матеріалу та товщини досліджуваного зразка. На підставі проведених розрахунків запропоновано рекомендації щодо вибору режиму роботи рентгенівського апарату при дефектоскопічному контролі.ukX-ray television systemnon-destructive testingsimulationX-ray vidiconCCD-matrixsemiconductor materialsрентгенотелевізійна системанеруйнівний контрольмоделюваннярентгеновідиконПЗЗ-матрицянапівпровідникові матеріалиПоглинання рентгенівського випромінювання в кремнію та германіюAbsorption of X-ray radiation in silicon and germaniumArticleС. 109-112621.397.130000-0002-1515-1050