Kutova, O. Yu.Obukhova, T. Yu.Dusheiko, M. G.Loboda, B. O.Borodinova, T. I.Tkach, S. V.2020-05-022020-05-022018Hydrogen Peroxide Measurements by MISFET and LET Structures with Rear Porous Silicon Layer and Metallic Nanoparticles / O. Yu. Kutova, T. Yu. Obukhova, M. G. Dusheiko, B. O. Loboda, T. I. Borodinova, S. V. Tkach // Мікросистеми, Електроніка та Акустика : науково-технічний журнал. – 2018. – Т. 23, № 5(106). – С. 17–24. – Бібліогр.: 21 назв.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/33189enporous siliconMISFET sensorPt nanoparticlesLET sensorAg nanoparticlesпористий кремнійМДН-транзисторфототранзисторнаночастинки сріблананочастинки платинипористый кремнийМДП-транзисторнаночастички среребрананочастички платиныHydrogen Peroxide Measurements by MISFET and LET Structures with Rear Porous Silicon Layer and Metallic NanoparticlesСенсори на польових та фототранзисторах з металевими наночастинками та пористим кремніємСенсоры на полевих та фототранзисторах с металлическими наночастицами та пористым кремниемArticlePp. 17-24https://doi.org/10.20535/2523-4455.2018.23.5.141665620.3