Опіч, А. В.Кучеренко, О. К.2018-08-072018-08-072018Опіч, А. В. Визначення вимог до точності базування інфрачервоних об’єктивів при вимірюванні модуляційної передавальної функції / А. В. Опіч, О. К. Кучеренко // XІ Науково-практична конференція студентів та аспірантів «Погляд у майбутнє приладобудування», 15-16 травня 2018 р., м. Київ, Україна : збірник статей / КПІ ім. Ігоря Сікорського, ПБФ. – Київ : Центр учбової літератури, 2018. – С. 154–158. – Бібліогр.: 5 назв.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/24159ukінфрачервоні об’єктивимодуляційна передавальна функціястенди вимірювання МПФточність вимірюванняВизначення вимог до точності базування інфрачервоних об’єктивів при вимірюванні модуляційної передавальної функціїArticleС. 154-158621.384.3«Погляд у майбутнє приладобудування», XІ Науково-практична конференція студентів та аспірантів