Momot, A. S.2020-05-172020-05-172020-05Momot, A. S. Analysis of neural networks efficiency in active thermal defectometry depending on the number of thermograms / Momot A. S. // XІХ Міжнародна науково-технічна конференція «Приладобудування: стан і перспективи», 13-14 травня 2020 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020. – С. 132. – Бібліогр.: 2 назви.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/33552ennondestructive testingneural networksthermal defectometryArticleC. 132004.89