Міхова, З. В.2019-07-032019-07-032019Міхова, З. В. Методики оцінювання метрологічних характеристик засобів вимірювальної техніки / З. В. Міхова // ХII Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Погляд у майбутнє приладобудування», 15-16 травня 2019 р., м. Київ, Україна : збірник праць. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2019. – С. 458–461. – Бібліогр.: 2 назви.978-611-01-1465-3https://ela.kpi.ua/handle/123456789/28194Були запропоновані методики оцінювання індивідуальних метрологічних характеристик ЗВТ з урахуванням комплексу інструментальних характеристик: систематичної похибки, випадкової похибки, варіації і дрейфу.ukметодики оцінюваннясистематична похибкавипадкова похибкадрейфваріаціяметрологічні характеристикиМетодики оцінювання метрологічних характеристик засобів вимірювальної технікиArticleС. 458-46153.088.228«Погляд у майбутнє приладобудування», ХII Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених