Куліков, В. М.2023-08-162023-08-162012Куліков, В. Порівняльний аналіз методів побудови тестів для цифрових пристроїв / Куліков В. М. // Information Technology and Security. – 2012. – Vol. 1, Iss. 2 (2). – Pp. 34–44. – Bibliogr.: 12 ref.2411-1031 (Print)2518-1033 (Online)https://ela.kpi.ua/handle/123456789/59229Розглядається проблема низької ефективності відомих детермінованих методів побудови тестів для цифрових схем. Показано, що головною причиною їх непридатності для складних схем є некерований перебір всіх комбінацій сигналів, які забезпечують прояв несправності на виході елемента з дефектом, та сигналів, які забезпечують транспортування викривленого сигналу до одного з виходів схеми. Результатом поведеного аналізу є висновок стосовно надання переваги при побудові тестів методу фокусованого пошуку.ukArticlePp. 34-44https://doi.org/10.20535/2411-1031.2012.1.2.54985681.326.7