Королевич, Любомир МиколайовичБорисов, Олександр Васильович2020-05-032020-05-032018Королевич, Л. М. Критерій вибору діелектрика для кремнієвих МДН-структур / Королевич Л. М., Борисов О. В. // Мікросистеми, Електроніка та Акустика : науково-технічний журнал. – 2018. – Т. 23, № 6(107). – С. 6–12. – Бібліогр.: 10 назв.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/33204ukМДН-структуравузловий аспектміжвузловий аспектсередня довжина зв’язкукритерій виборуробота виходуMOS-structurenodal aspectinter-node aspectaverage coupling lengthcriterion of choiceelectron work functionМДП-структураузловой аспектмежузловой аспектсредняя длина связикритерий выбораработа выходаКритерій вибору діелектрика для кремнієвих МДН-структурThe Criterion for Choosing an Insulator for Silicon MOS StructuresКритерий выбора диэлектрика для кремниевых МДП-структурArticleС. 6-12https://doi.org/10.20535/2523-4455.2018.23.6.141435621.382