Семенов, А. О.Семенова, О. О.Чухов, В. В.Semenov, A.Semenova, E. A.Chuhov, V.Семенов, А. А.Семенова, Е. А.Чухов, В. В.2014-07-302014-07-302011Семенов, А. О. Аналіз чутливості фазового кута коефіцієнта відбиття хвилевідної вимірювальної комірки у випадку слабкопоглинаючого діелектрика / А. О. Семенов, О. О. Семенова, В. В. Чухов // Вісник НТУУ «КПІ». Радіотехніка, радіоапаратобудування : збірник наукових праць. – 2011. – № 45. – С. 130–138. – Бібліогр.: 8 назв.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/8263ukвимірювальна коміркакоефіцієнт відбиттядіелектрична проникністьслабкопоглинаючий діелектрикmeasuring cellthe reflection coefficientdielectric constantlow loss dielectricизмерительная ячейкакоэффициент отражениядиэлектрическая проницаемостьслабопоглощающий диэлектрикАналіз чутливості фазового кута коефіцієнта відбиття хвилевідної вимірювальної комірки у випадку слабкопоглинаючого діелектрикаSensitivity analysis of the phase angle of the reflection coefficient of waveguide measurement cell in the case of low loss dielectricАнализ чувствительности фазового угла коэффициента отражения волноводной измерительной ячейки в случае слабо поглощающего диэлектрикаArticleС. 130-138621.317.3