Верцанова, Олена ВікторівнаБердник, Кирило Юрійович2020-07-202020-07-202020Бердник, К. Ю. Системи аналізу зображення в методах візуального контролю якості ІС : дипломна робота … бакалавра : 153 Мікро- та наносистемна техніка / Бердник Кирило Юрійович. – Київ, 2020. – 57 с.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/35115Метою роботи є аналіз галузі інспекції інтегральних схем, порівняння алгоритмів аналізу зображень, розгляд методів захоплення зображення, доцільних для поставленої задачі. У цій роботі будуть розглянуті методи виявлення дефектів, що застосовуються у візуальному контролі якості інтегральних схем, опис виникнення дефектів, можливі наслідки для роботи схеми, методи захоплення та отримання зображення світлової мікроскопії, їх порівняння, а також опис застосування конкретної техніки та програмного забезпечення для виявлення похибки металізації.ukконтроль якості інтегральних схемалгоритми аналізу зображеннядефекти інтегральних схемметоди обробки зображенняquality control of integrated circuitsimage analysis algorithmsimage acquisition methodsimage processing methodslight microscopyBachelor Thesis57 с.