Полушко, М. М.Шевченко, В. В.Мозговий, Р. С.2025-08-062025-08-062025Полушко, М. М. Автоматизована система контролю параметрів шорсткості поверхні деталей приладів / Полушко М. М., Шевченко В. В., Мозговий Р. С. // XXІV Міжнародна науково-технічна конференція "Приладобудування: стан і перспективи", 13-14 травня 2025 р., м. Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2025. – С. 131-134. – Бібліогр. 6 назв.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/75431ukавтоматизована системапараметри шорсткості поверхні деталей приладівоптичний методконтрольArticleC. 131-134621.9.08:658.562