Маркін, Максим ОлександровичШкарівський, Руслан Анатолійович2019-03-272019-03-272018-12Шкарівський, Р. А. Оптико-електронна система для виявлення дефектів клейових з’єднань оптичних деталей : магістерська дис. : 152 Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка / Шкарівський Руслан Анатолійович. – Київ, 2018. – 92 с.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/26939Магістерська дисертація, пояснювальна записка 108 с., 98 рисунків, 35 таблиць, 29 джерел. Стенд Оптико-електронної системи для виявлення дефектів клейових з’єднань оптичних деталей. Огляд та аналіз відомих методів виявлення дефектів з’єднань. Аналіз програмних комплексів виявлення дефектів. Аналіз та побудова блоку освітлення. Геометричні розміри дефектів клейових з’єднань оптичних деталей. Схеми оптичні, комбіновані структурні. Проведено експерименти: 1. Якість елементів блоку освітлення; 2. 1-ий експеримент з об’єктами дослідження; 3. 2-ий експеримент з застосуванням УП «Ретона» Визначення геометричних розмірів дефектів. Визначення площі покриття клейового розчину. Розрахунок похибок. Аналіз покращення клейових з’єднань після застосування УП «Ретона» Розробка стартап-проекту.ukоптико-електронна системаклейові з’єднаннядефектикамера на базі матриці CMOSПВАмоментепоксидтермопластичнийoptoelectronic systemsadhesive compounddefectscamera based matrix CMOSPVAmomentsepoxythermoplasticMaster Thesis92 с.531.7