Маркін, Максим ОлександровичШкарівський, Руслан Анатолійович2019-03-272019-03-272018-12Шкарівський, Р. А. Оптико-електронна система для виявлення дефектів клейових з’єднань оптичних деталей : магістерська дис. : 152 Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка / Шкарівський Руслан Анатолійович. – Київ, 2018. – 92 с.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/26939ukоптико-електронна системаклейові з’єднаннядефектикамера на базі матриці CMOSПВАмоментепоксидтермопластичнийoptoelectronic systemsadhesive compounddefectscamera based matrix CMOSPVAmomentsepoxythermoplasticMaster Thesis92 с.531.7