Шевченко, В. В.Пилипенко, В. О.2024-07-152024-07-152024Шевченко, В. В. Система контролю якості поверхні деталей приладів у автоматизованому виробництві / В. В. Шевченко, В. О. Пилипенко // XХIII Міжнародна науково-технічна конференція "Приладобудування: стан і перспективи", 14–15 травня 2024 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2024. – С. 84-86.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/67922ukякість поверхні деталейакустичний методавтоматизація контролюпродуктивністьнадійністьArticleP. 84-86621.9.08:658.562