Сичевський, В. С.2020-02-152020-02-152019Сичевський, В. С. Аналіз методів контролю шорсткості поверхні деталей / Сичевський В. С. // XV Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Ефективність інженерних рішень у приладобудуванні», 10-11 грудня 2019 року, м. Київ, Україна : збірник праць конференції / КПІ ім. Ігоря Сікорського, ПБФ, ФММ. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського; Центр учбової літератури, 2019. – С. 166–168. – Бібліогр.: 4 назви.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/31642Описано задачі, що вирішує процес контролю шорсткості деталі в умовах виробництва. Наведено основні параметри, які визначає шорсткість поверхні деталі виробу. Наведено графічне відображення схеми класифікації методів контролю шорсткості поверхні деталей виробів. Методи класифікують на контактні та безконтактні. Розглянуто методи контролю шорсткості поверхні деталей виробів та названо основні завдання, які вони вирішують при контролі шорсткості поверхні. Розглянуто ефективність кожного з методів контролю шорсткості поверхні деталей з вказаням їх доцільності для конкретного випадку використання в процесі технологічного процесу виготовлення виробу. Проаналізовано проблеми контролю шорсткості поверхні та наведено шляхи для їх вирішення. За результатами проведеного аналізу методів контролю шорсткості поверхні деталей виробів було зроблено висновки.ukшорсткість поверхніметоди контролюмікронерівністьвимірюванняАналіз методів контролю шорсткості поверхні деталейArticleС. 166-168681.2.082«Ефективність інженерних рішень у приладобудуванні», XV Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених