Висоцький, П. П.Монастирський, Г. Є.Дужерученко, О. Г.2023-11-202023-11-202023Висоцький, П. П. Використання ефектів дифракції для визначення методом рентгенофлуоресцентного аналізу концентрації вуглецю у сталях / П. П. Висоцький, Г. Є. Монастирський, О. Г. Дужерученко // XXI Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Теоретичні і прикладні проблеми фізики, математики та інформатики» (Україна, м. Київ, 11-12 травня 2023 р.) : матеріали конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2023. – С. 17-20.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/62314У даній статті розглядається можливість адаптації методу рентгенофлуоресцентного аналізу для визначення вмісту вуглецю у сталях. Було запропоновано метод оцінки вмісту вуглецю на основіінтенсивностідифракційнихпіківуфлуоресцентнихспектрах.Експериментальновизначено оптимальну геометрію зйомки спектру, та встановлено, що у випадку нелегованої сталі дана методика дає адекватну оцінку вмісту вуглецю у зразку.ukрентгенофлуоресцентний аналізвуглецева стальдифракціяArticleС. 17-20