Абдуллаєв, О. Р.Рижиков, І. В.Руденко, Н. М.Адаменко, Ю. Ф.Abdullaiev, O.Ryzhykov, I.Rudenko, N.Adamenko, Yu.Абдуллаев, О. Р.Рыжиков, И. В.Руденко, Н. Н.Адаменко, Ю. Ф.2014-07-242014-07-242014Аналіз методів контролю та оцінки радіаційної стійкості на прикладі модельних (Zn-O)-GaP світлодіодів / Абдуллаєв О. Р., Рижиков І. В., Руденко Н. М., Адаменко Ю. Ф. // Вісник НТУУ «КПІ». Радіотехніка, радіоапаратобудування : збірник наукових праць. – 2014. – № 56. – С. 112-120. – Бібліогр.: 5 назв.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/8186uk(Zn-O)-GaP світлодіодконстанта пошкоджуваностірадіаційна стійкістьнейтронне опроміненнясила світла(Zn-O)-GaP LEDdamage constantneutron irradiationlight intensity(Zn-O)-GaP светодиодконстанта повреждаемостирадиационная стойкостьнейтронное облучениесила светаАналіз методів контролю та оцінки радіаційної стійкості на прикладі модельних (Zn-O)-GaP світлодіодівAnalysis of radiation resistance control and evaluation methods in terms of model (Zn-O)-GaP LEDsАнализ методов контроля и оценки радиационной стойкости на примере модельных (Zn-O)-GaP светодиодовArticleС. 112-120621.372.061