Лущик, Д. В.2022-06-092022-06-092021Лущик, Д. В. Чутливість різновидів контрольних карт / Д. В. Лущик // XVII Науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Ефективність та автоматизація інженерних рішень у приладобудуванні», 07-08 грудня 2021 р, м. Київ, Україна : збірник праць конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2021. – С. 215-217. – Бібліогр.: 5 назв.https://ela.kpi.ua/handle/123456789/47845ukконтрольні картичутливістьсередня довжина серіїрозлад процесуArticleС. 215-217681.5