Бакалаврські роботи (ПБ)

Постійне посилання зібрання

https://ela.kpi.ua/handle/123456789/21941

Переглянути

Перегляд Бакалаврські роботи (ПБ) за Автор "Гладишко, Андрій Павлович"

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
  • Ескіз
    ДокументВідкритий доступ
    Комп’ютерно-інтегрована система відтворення зразкових відносних деформацій
    (КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020) Гладишко, Андрій Павлович; Зайцев, Віктор Миколайович
    Дипломний проєкт містить:73 с., 6 табл., 23 рис., 3 дод. та 20 джер. Сьогодні прилади та системи вимірювання деформації широко використовуються у багатьох країнах у різних сферах виробництва. Вони є одним із перспективних напрямків розвитку наукового та технічного процесу багатьох розвинутих держав. Стан техніки вимірювання деформацій характеризується серійним виробництвом робочих засобів вимірювань (ЗВ), серед яких широке розповсюдження мають тензометри, датчики деформацій, тензорезистори, вторинна тензометрична апаратура - вимірники деформацій, тензометричні вимірювальні системи. Прилади для вимірювання деформацій набули великого розповсюдження як ефективний засіб контролю міцності на стадіях проектування, доведення і експлуатації машин, апаратів і споруд, при рішенні задач автоматизації процесів і технічної діагностики. Тому вдосконалення системи метрологічного забезпечення цих вимірювань має важливе народногосподарське значення. Найширше розповсюдження для вимірювання деформацій в даний час знайшли тензорезистори. Визначення метрологічних характеристик тензорезисторів здійснюється при випуску їх з виробництва і в процесі експлуатації, після закінчення гарантійного терміну зберігання, при використовуванні нерегламентованих типів зв'язуючого, перед проведенням особливо відповідальних вимірювань і в інших випадках. Наявність великого числа виготівників і споживачів тензорезисторів, що мають потребу у визначенні їх метрологічних характеристик, з одного боку, і відсутність централізованого виробництва засобів перевірки тензорезисторів з другого боку, привели до створення і використовування різноманіття засобів визначення метрологічних характеристик тензорезисторів.