Перегляд за Автор "Mastenko, Ihor"
Зараз показуємо 1 - 2 з 2
Результатів на сторінці
Налаштування сортування
Документ Відкритий доступ Justification of the method of determination of defects by using computer vision technology(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2022) Mastenko, Ihor; Stelmakh, NataliiaДокумент Відкритий доступ Preparation of the database for neural network training in the problems of product defect recognition(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2024) Mastenko, Ihor; Stelmakh, Nataliia; Komada, Pawel