root.skip-to-content
English
Українська
Увійти
Вхід з ORCID
Email
Пароль
Увійти
Новий користувач? Зареєструйтесь.
Забули пароль?
Фонди та зібрання
Пошук за критеріями
English
Українська
Увійти
Вхід з ORCID
Email
Пароль
Увійти
Новий користувач? Зареєструйтесь.
Забули пароль?
Головна
Наукова періодика
Наукові вісті КПІ: міжнародний науково-технічний журнал
2016
Наукові вісті НТУУ «КПІ»: міжнародний науково-технічний журнал, № 1(105)
Переглянути за ключовими словами
Наукові вісті НТУУ «КПІ»: міжнародний науково-технічний журнал, № 1(105)
Постійне посилання зібрання
https://ela.kpi.ua/handle/123456789/18062
Переглянути
Нові надходження
За датою
За автором
За назвою
За темою
Нові надходження
За датою
За автором
За назвою
За темою
Перегляд Наукові вісті НТУУ «КПІ»: міжнародний науково-технічний журнал, № 1(105) за Ключові слова "535(075)"
Перейти
browse.back.all-results
Зараз показуємо
1 - 1 з 1
Результатів на сторінці
1
5
10
20
40
60
80
100
Налаштування сортування
У порядку збільшення
У порядку зменшення
Вантажиться...
Документ
Відкритий доступ
Спосіб визначення RMS опромінення зображення протяжного джерела методом мікрофотометрії
(
НТУУ «КПІ»
,
2016
)
Чиж, Ігор Генріхович
;
Голембовський, Олександр Олексійович
;
Chyzh, Igor G.
;
Holembovsky, Oleksandr O.
;
Чиж, Игорь Генрихович
;
Голембовский, Александр Алексеевич
Показати більше