(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2016) Оніщенко, В. О.; Миленький, В. В.
За результатами досліджень послідовних алгоритмів виявлено зміни математичного очікування й дисперсії сформованого алгоритму, що дозволяє виявити тип дефекту. Визначено середню тривалість знаходження відхилень й відновлення дефектів. Установлено шляхи визначення ймовірності помилкового виявлення дефекту.