(КПІ ім. Ігоря Сікорського; Центр учбової літератури, 2019) Дорожинська, Г. В.
В аналітичному приладобудуванні досить стрімко розвиваються прилади на основі явища поверхневого плазмонного резонансу, які дають змогу реєструвати ледь помітні зміни в досліджуваних середовищах. Основною вихідною характеристикою цих приладів є резонансна характеристика відбиття. Точність визначення мінімуму характеристики відбиття суттєво залежить від математичних методів його визначення. В порівнянні з найпоширенішими методами апроксимації поліномами новий метод середньої лінії забезпечує меншу похибку вимірювання при зміні показників заломлення з 1,33 до 1,5 в порівнянні з методами апроксимації поліномами. При цьому зі збільшенням показника заломлення досліджуваної речовини абсолютна похибка вимірювання зменшується для методів апроксимації поліномами через розширення характеристики відбиття. В порівнянні з поліноміальними методами метод середньої лінії має більшу точність визначення мінімуму характеристики відбиття, через те що на метод апроксимації поліномами суттєво впливає антисиметричність характеристики. Ефективність застосування нового методу в порівнянні з найпоширенішими поліноміальними методами полягає в збільшенні корисного ефекту за рахунок зменшення похибки вимірювання досліджуваних середовищ близько у 8 разів.