Секція 3. Комп’ютерно-інтегровані технології виробництва приладів

Постійне посилання зібрання

https://ela.kpi.ua/handle/123456789/56717

Переглянути

Зараз показуємо 1 - 2 з 2

Відкритий доступ
Виявлення неякісних електронних компонентів або невідомого їх походження при виробництві приладів
(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2023) Зимовченко, В. А.; Павленко, В. П.
Відкритий доступ
Система діагностування стану обладнання в процесі виготовлення деталей приладів
(КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2023) Заєць, С. С.