root.skip-to-content
English
Українська
Увійти
Вхід з ORCID
Email
Пароль
Увійти
Новий користувач? Зареєструйтесь.
Забули пароль?
Фонди та зібрання
Пошук за критеріями
English
Українська
Увійти
Вхід з ORCID
Email
Пароль
Увійти
Новий користувач? Зареєструйтесь.
Забули пароль?
Головна
Наукова періодика
Известия высших учебных заведений. Радиоэлектроника: международный ежемесячный научно-технический журнал
2014
Известия высших учебных заведений. Радиоэлектроника: международный ежемесячный научно-технический журнал, Т. 57, № 12 (630)
Переглянути за ключовими словами
Известия высших учебных заведений. Радиоэлектроника: международный ежемесячный научно-технический журнал, Т. 57, № 12 (630)
Постійне посилання зібрання
https://ela.kpi.ua/handle/123456789/24714
Переглянути
Нові надходження
За датою
За автором
За назвою
За темою
Нові надходження
За датою
За автором
За назвою
За темою
Перегляд Известия высших учебных заведений. Радиоэлектроника: международный ежемесячный научно-технический журнал, Т. 57, № 12 (630) за Ключові слова "мощность тока утечки"
Перейти
browse.back.all-results
Зараз показуємо
1 - 1 з 1
Результатів на сторінці
1
5
10
20
40
60
80
100
Налаштування сортування
У порядку збільшення
У порядку зменшення
Вантажиться...
Документ
Відкритий доступ
Разработка и сравнительный анализ схем перспективной технологии FinFET
(
НТУУ «КПИ»
,
2014
)
Равиндра Сингх Кушвах
;
Манорама Чаухан
;
Паван Шривастава
;
Шиам Акеше
Показати більше