Фізика деформації і руйнування при локальному навантаженні кристалічних та аморфних матеріалів
Ескіз недоступний
Дата
2008
Автори
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Анотація
Об’єкт дослідження – нано-, субмікро-, мікрокристалічні, аморфні та квазікристалічні матеріали.
Мета роботи – розвиток фізичних уявлень і теоретичних положень щодо закономірностей деформації та руйнування нано-, субмікро-, мікрокристалічних та аморфних матеріалів в умовах локального навантаження жорсткими інденторами на нано- і мікрорівнях для створення нових методик визначення комплексу їх механічних властивостей.
На основі результатів теоретичних та експериментальних досліджень:
– розвинути фізичні уявлення щодо характеристик міцності та пластичності матеріалів, які визначають в умовах індентування на нано- та мікрорівнях;
– створені та опрацьовані методи визначення комплексу механічних властивостей (зокрема характеристик міцності та пластичності) в умовах індентування на нано- та мікрорівнях;
– розвинути фізичні уявлення щодо температурної залежності твердості матеріалів і дано експериментальне обґрунтування термоактиваційної природи процесу пластичної деформації при індентуванні.
Вперше отримані експериментальні результати щодо міцності та пластичності ряду малопластичних матеріалів. Нові теоретичні положення та методики, розвинуті у роботі, мають важливе значення для розробки новітніх технологій отримання матеріалів, оптимізації складу та структури і прогнозування їх поведінки в умовах експлуатації під навантаженням. Зокрема доведена можливість контролю як міцності так і пластичності методом індентування сталі після різної термічної обробки, включаючи загартований стан
Опис
Ключові слова
кристалічні, аморфні матеріали, жорсткі індентори, пружно-пластичний контакт, міцність та пластичність матералів
Бібліографічний опис
Фізика деформації і руйнування при локальному навантаженні кристалічних та аморфних матеріалів : звіт про НДР (заключ.) / НТУУ "КПІ" ; кер. роб. П. Лобода. - К., 2008. - 128 л. + CD-ROM. - Д/б №2000-ф