Акустооптический метод неразрушающего контроля качества кристаллов для акустоэлектроники

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorБалышева, Ольга Леонидовна
dc.contributor.authorКлудзин, Виктор Владимирович
dc.contributor.authorКулаков, Сергей Викторович
dc.contributor.authorШакин, Олег Васильевич
dc.date.accessioned2018-10-14T22:26:50Z
dc.date.available2018-10-14T22:26:50Z
dc.date.issued2014
dc.descriptionПолный текст доступен на сайте издания по подписке: http://radio.kpi.ua/article/view/S0021347014110041uk
dc.description.abstractruПредложен акустооптический вариант реализации метода неразрушающего контроля качества кристаллов. Показаны возможности метода для исследования свойств кристаллов, применяемых в акустоэлектронных устройствах. Применен акустооптический метод «теневых» изображений. Визуализизация структуры акустических полей позволила оценить оптическую однородность материала и зафиксировать пространственные характеристики акустических волн, эффекты расходимости и отклонения направления распространения от волновой нормали.uk
dc.format.pagerangeС. 31-37uk
dc.identifier.citationАкустооптический метод неразрушающего контроля качества кристаллов для акустоэлектроники / О. Л. Балышева, В. В. Клудзин, С. В. Кулаков, О. В. Шакин // Известия высших учебных заведений. Радиоэлектроника. – 2014. – Т. 57, № 11 (629). – C. 31–37. – Библиогр.: 15 назв.uk
dc.identifier.doihttps://doi.org/10.20535/S0021347014110041
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/24810
dc.language.isoruuk
dc.publisherНТУУ «КПИ»uk
dc.publisher.placeКиевuk
dc.sourceИзвестия высших учебных заведений. Радиоэлектроника, 2014, Т. 57, № 11 (629)uk
dc.subjectакустоэлектроникаuk
dc.subjectакустооптикаuk
dc.subjectакустооптический методuk
dc.subjectнеразрушающий контрольuk
dc.subjectкристаллuk
dc.subjectметод теневых изображенийuk
dc.subjectакустическая волнаuk
dc.subject.udc534:621.382uk
dc.titleАкустооптический метод неразрушающего контроля качества кристаллов для акустоэлектроникиuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
2014-11-31.pdf
Розмір:
58.74 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Первая страница
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
7.74 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Известия высших учебных заведений. Радиоэлектроника: международный ежемесячный научно-технический журнал, Т. 57, № 11 (629)