MTF Measurements

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorAvdeionok, І. І.
dc.contributor.authorBorovitsky, V. М.
dc.date.accessioned2019-01-21T15:12:24Z
dc.date.available2019-01-21T15:12:24Z
dc.date.issued2018
dc.description.abstractenThis article describes the importance of the MTF, its methods of measurement, as well as the benefits of measuring by the method of tilting the edge.
dc.format.pagerangeС. 45–48uk
dc.identifier.citationAvdeionok, І. І. MTF Measurements / І. І. Avdeionok, V. М. Borovitsky // XІV Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Ефективність інженерних рішень у приладобудуванні», 4-5 грудня 2018 року, КПІ ім. Ігоря Сікорського, м. Київ, Україна : збірник праць конференції / КПІ ім. Ігоря Сікорського, ПБФ, ФММ. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2018. – С. 45–48. – Бібліогр.: 3 назви.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/25955
dc.language.isoenuk
dc.publisherКПІ ім. Ігоря Сікорськогоuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.sourceXІV Всеукраїнська науково-практична конференція студентів, аспірантів та молодих вчених «Ефективність інженерних рішень у приладобудуванні», 4-5 грудня 2018 року, м. Київ, Україна : збірник праць конференціїuk
dc.subjectмeasuring technologyuk
dc.subjectslanted edge techniqueuk
dc.subjectMTFuk
dc.subject.udc004.932.2uk
dc.titleMTF Measurementsuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
ЕІРП_2018-Page45-48.pdf
Розмір:
532.36 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
7.8 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Секція 2. Економіка виробництва і використання оптичних та оптико-електронних приладів і систем