Физико-статистический метод определения надежности изделий твердотельной электроники

dc.contributor.advisorБакунцев, Александр Васильевич
dc.contributor.authorМазурок, Наталия Степановна
dc.contributor.degreedepartmentмикроэлектроникиuk
dc.contributor.degreefacultyэлектроникиuk
dc.contributor.degreegrantorНациональный технический університет Украины "Киевский политехнический институт"uk
dc.date.accessioned2013-12-18T13:06:05Z
dc.date.available2013-12-18T13:06:05Z
dc.date.issued2013
dc.format.page138 л.uk
dc.identifier.citationМазурок Н.С. Физико-статистический метод определения надежности изделий твердотельной электроники : дисс. ... канд. техн. наук. : 05.27.01 – твердотельная электроника. - К., 2013. - 138 л. + CD-ROMuk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/6457
dc.language.isoruuk
dc.publisher.placeКиевuk
dc.rightsДисертація захищена авторським правом. Переглянути її можливо з цього джерела з будь-якою метою, але копіювання та розповсюдження в будь-якому форматі забороняється без письмового дозволу.uk
dc.status.pubpublisheduk
dc.subjectфізико-статистична модель надійностіuk
dc.subjectвироби твердотільної електронікиuk
dc.subjectдифузійний механізм деградаціїuk
dc.subjectкритеріальні фізичні характеристикиuk
dc.subjectоднорідні і неоднорідні сукупностіuk
dc.subjectфизико-статистическая модель надежностиuk
dc.subjectизделия ТТЭuk
dc.subjectдиффузионный механизм деградацииuk
dc.subjectкритериальные физические характеристикиuk
dc.subjectоднородные и неоднородные совокупностиuk
dc.subjectphysical-statistical model of reliabilityuk
dc.subjectsolid-state electronics devicesuk
dc.subjectdiffusion mechanism of degradationuk
dc.subjectcriterical physical characteristicsuk
dc.subjecthomogeneous and heterogeneous setsuk
dc.subject.udc621.382uk
dc.titleФизико-статистический метод определения надежности изделий твердотельной электроникиuk
dc.typeThesis Doctoraluk
thesis.degree.levelcandidateuk
thesis.degree.nameкандидат технических наукuk
thesis.degree.speciality05.27.01 – твердотельная электроникаuk

Файли