Термоелектричний вплив низькоенергетичного електронного потоку на дефектний шар оптичного скла

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorКанашевич, Г. В.
dc.contributor.authorKanashevich, G. V.
dc.contributor.authorКанашевич, Г. В.
dc.date.accessioned2013-08-05T09:13:34Z
dc.date.available2013-08-05T09:13:34Z
dc.date.issued2013
dc.description.abstractenThe physical terms of micromachining (energy of electrons E≤8 keV) and mechanism of interaction of electronic stream with a defective layer of optical glass are determined. Limits of the power electron beam, which lead to melting of the defect layer, are specified. The stages of thermal and electrical action of the electronic stream on the defective layer of glass are stated. The obtained results allowed us to expand the existing technological capabilities of thermal electron-beam processing of dielectric materials and use ribbon electron beam as a tool for micromachining and modifying the chemical properties of the defect layer of optical glass. The ribbon electron beam is shown to be used as a means of identification of details of the defect layer of optical glass which had undergone finish treatment polishing in the conditions of optical production. Application: instrument-making, microoptics, nanooptics, fiber optics.uk
dc.description.abstractruОпределены физические условия электронно-лучевой микрообработки (энергия электронов Е≤8 кеВ) и механизм взаимодействия электронного потока с дефектным слоем оптического стекла. Установлены пределы мощности электронного потока, которые приводят к оплавлению дефектного слоя. Определены стадии термической и электрической действия электронного потока на дефектный слой стекла. Полученные результаты позволили расширить существующие технологические возможности термической электронно-лучевой обработки диэлектрических материалов и использовать электронный поток ленточной формы в качестве инструмента для микрообработки и модификации химических свойств дефектного слоя оптического стекла. Показано, что ленточный электронный поток может использоваться, как средство для идентификации дефектного слоя деталей из оптического стекла, которые прошли финишную обработку полированием в условиях оптического производства. Область применения: приборостроение, микрооптика, нанооптика, волоконная оптика.uk
dc.description.abstractukВизначено фізичні умови електронно-променевої мікрообробки (енергія електронів Е≤8 кеВ) та механізм взаємодії електронного потоку із дефектним шаром оптичного скла. Встановлено межі потужності електронного потоку, що призводять до оплавлення дефектного шару. Визначено стадії термічної і електричної дії електронного потоку на дефектний шар скла. Отримані результати дозволили розширити існуючі технологічні можливості термічної електронно-променевої обробки діелектричних матеріалів і використати електронний потік стрічкової форми в якості інструменту для мікрообробки та модифікування хімічних властивостей дефектного шару оптичного скла. Показано, що стрічковий електронний потік може використовуватися як засіб для ідентифікування дефектного шару деталей з оптичного скла, що пройшли фінішну обробку поліруванням в умовах оптичного виробництва. Область застосування: приладобудування, мікрооптика, нанооптика, волоконна оптика.uk
dc.format.pagerangeС. 123-130uk
dc.identifier.citationКанашевич Г. В. Термоелектричний вплив низькоенергетичного електронного потоку на дефектний шар оптичного скла / Канашевич Г. В. // Вісник НТУУ «КПІ». Приладобудування : збірник наукових праць. – 2013. – Вип. 45. – С. 123–130. – Бібліогр.: 13 назв.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/3388
dc.language.isoukuk
dc.publisherНТУУ "КПІ"uk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.sourceВісник НТУУ «КПІ». Приладобудування: збірник наукових працьuk
dc.status.pubpublisheduk
dc.subjectелектронний потікuk
dc.subjectелектронно-променева обробкаuk
dc.subjectоптичний матеріалuk
dc.subjectелектронно-променева мікрообробкаuk
dc.subjectоптичне склоuk
dc.subjectдефектний шарuk
dc.subjectмікрооптикаuk
dc.subjectнанооптикаuk
dc.subjectelectron beamen
dc.subjectelectron beam processingen
dc.subjectoptical materialen
dc.subjectelectron-beam micromachiningen
dc.subjectoptical glassen
dc.subjectdefective layer opticsen
dc.subjectmicroopticsen
dc.subjectnanoopticsen
dc.subjectэлектронный потокru
dc.subjectэлектронно-лучевая обработкаru
dc.subjectоптический материалru
dc.subjectэлектронно-лучевая микрообработкаru
dc.subjectоптическое стеклоru
dc.subjectдефектный слойru
dc.subjectмикрооптикаru
dc.subjectнанооптикаru
dc.subject.udc621.373.826.038uk
dc.titleТермоелектричний вплив низькоенергетичного електронного потоку на дефектний шар оптичного склаuk
dc.title.alternativeThermoelectric impact of low energy electron beam on defective layer of optical glassuk
dc.title.alternativeТермоэлектрический воздействие низкоэнергетического электронного потока на дефектный слой оптического стеклаuk
dc.typeArticleuk
thesis.degree.level-uk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
rozd_7_1.pdf
Розмір:
259.75 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Вісник НТУУ «КПІ». Приладобудування: збірник наукових праць, Вип. 45