Detection of stresses induced by heat flux in a solid by using a photoelastic microscope

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorMatyash, I. E.
dc.contributor.authorMinaylova, I. A.
dc.contributor.authorMischuk, O. N.
dc.contributor.authorOliinyk, O. O.
dc.contributor.authorSerdega, B. K.
dc.contributor.authorTsyganok, B. A.
dc.contributor.authorМатяш, І. Є.
dc.contributor.authorМіняйлова, I. A.
dc.contributor.authorMiщук, О. М.
dc.contributor.authorОлійник, O. O.
dc.contributor.authorСердега, Б. К.
dc.contributor.authorЦиганок, Б. А.
dc.contributor.authorМатяш, И. Е.
dc.contributor.authorМиняйлова, И. А.
dc.contributor.authorМищук, А. М.
dc.contributor.authorОлийник, О. О.
dc.contributor.authorСердега, Б. К.
dc.contributor.authorЦыганок, Б. А.
dc.date.accessioned2015-01-15T09:25:55Z
dc.date.available2015-01-15T09:25:55Z
dc.date.issued2014
dc.description.abstractenThe aim of this paper is to present adventures of practical and effective modulation polarimetry method (MPM) applied to the plate sample of quartz glass for detection of its minute internal thermoelastic stresses induced by heat wave propagation. Described MPM allowed to make accurate measuring of birefringence that accompany the dynamics of thermoelasticity and made possible to calculate the value of stress distribution along and crosswise to the direction of heat flow at certain moments of time, as well as its dependence on time in defined heat flux coordinates. The main goal of this paper is not only the solution of inverse problems of nonstationary thermoelasticity that allowed obtaining spatio-temporal temperature functions by graphical integration of the experimental characteristics but researching the dynamics of the maximum curvature point of the temperature function T(t) that is a characteristic of the thermal front in the process of heat flow establishment. In addition, it is shown that due to the high detectability of MPM applied in photoelastic microscope became possible to observe the radiation component of the heat transfer process.uk
dc.description.abstractruЦель этой статьи заключается в представлении преимуществ практического и эффективного метода модуляционной поляриметрии (МПМ), примененного к образцу кварцевого стекла в виде пластины для выявления его самых малых внутренних термонапряжений, вызванных распространением тепловой волны. Описанный МПМ позволил провести точные измерения двулучепреломления, которое сопровождает динамику термоупругости, что сделало возможным вычисление значения распределения напряжений вдоль и поперек направления теплового потока в определенные моменты времени, а также их зависимость от времени в определенных координатах теплового потока. Основная цель данной работы является не только решение обратной задачи нестационарной термоупругости, что позволяет получить пространственно-временные температурные функции графическим интегрированием экспериментальных характеристик, но и исследование динамики точки максимума кривизны температурной функции T(t), что является характеристикой теплового фронта в процессе установления теплового потока. Кроме того, было показано, что благодаря применению высокой обнаружительной способности МПМ в фотоупругом микроскопе сделало возможным наблюдать радиационную составляющую теплопереноса.uk
dc.description.abstractukМета цієї статті полягає в представленні переваг практичного та ефективного методу модуляційної поляриметрії (МПМ), застосованого до зразка кварцового скла у вигляді пластини для виявлення його найменших внутрішніх термонапружень, викликаних поширення теплової хвилі. Описаний МПМ дозволив провести точні вимірювання двопроменезаломлення, яке супроводжує динаміку термопружності, що зробило можливим обчислення значення розподілу напружень вздовж і поперек напрямку теплового потоку в певні моменти часу, а також їх залежність від часу в певних координатах теплового потоку. Основна мета даної роботи є не тільки вирішення обернених задач нестаціонарної термопружності, що дозволяє отримати просторово-часові температурні функції графічним інтегруванням експериментальних характеристик, але й дослідження динаміки точки максимуму кривизни температурної функції T(t), що є характеристикою теплового фронту в процесі встановлення теплового потоку. Окрім того, було показано, що завдяки високій виявній здатності МПМ застосованої у фотопружному мікроскопі, стало можливим спостерігати радіаційну складову теплопереносу.uk
dc.format.pagerangeС. 9-22uk
dc.identifier.citationDetection of stresses induced by heat flux in a solid by using a photoelastic microscope / I. E. Matyash, I. A. Minaylova, O. N. Mischuk [et al.] // Electronics and Communications : научно-технический журнал. – 2014. – Т. 19, № 2(79). – С. 9–22. – Библиогр.: 20 назв.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/10114
dc.language.isoenuk
dc.publisherНТУУ "КПИ"uk
dc.publisher.placeКиевuk
dc.source.nameElectronics and Communications: научно-технический журналuk
dc.status.pubpublisheduk
dc.subjectmodulation polarimetryen
dc.subjectbirefringenceen
dc.subjectheat flowen
dc.subjectthermoelastisityen
dc.subjectphotoelastic microscopeen
dc.subjectмодуляційна поляриметріяuk
dc.subjectдвопроменезаломленняuk
dc.subjectтепловий потікuk
dc.subjectтермопружністьuk
dc.subjectфотопружний мікроскопuk
dc.subjectмодуляционная поляриметрияru
dc.subjectдвулучепреломлениеru
dc.subjectтепловой потокru
dc.subjectтермоупругостьru
dc.subjectфотоупругий микроскопru
dc.subject.udc534.51; 539.3; 535.347uk
dc.titleDetection of stresses induced by heat flux in a solid by using a photoelastic microscopeuk
dc.title.alternativeДетектування індукованих тепловим потоком напружень в твердому тілі за допомогою фотопружного мікроскопуuk
dc.title.alternativeДетектирование индуцированных тепловым потоком напряжений в твердом теле с помощью фотоупругого микроскопаuk
dc.typeArticleuk
thesis.degree.level-uk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
3.pdf
Розмір:
733.09 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Electronics and Communications: научно-технический журнал, Т. 19, № 2(79)