Обзор и анализ методов определения уровня жидкости в емкости

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorЛитовко, М. А.
dc.contributor.authorНикитин, А. К.
dc.date.accessioned2018-08-10T07:30:38Z
dc.date.available2018-08-10T07:30:38Z
dc.date.issued2018
dc.description.abstractruВ данной статье представленные материалы, которые имеют цель определения направления дипломного проекта бакалавра. Для этого была проведена работа по сбору и анализа данных по разработке уровнемера. Отдельные полученные материалы, их анализ и выводы приведены в данной статье.uk
dc.event.date2018-05-15uk
dc.event.placeКПІ ім. Ігоря Сікорського, м. Київ, Українаuk
dc.format.pagerangeС. 274-276uk
dc.identifier.citationЛитовко, М. А. Обзор и анализ методов определения уровня жидкости в емкости / М. А. Литовко, А. К. Никитин // XІ Науково-практична конференція студентів та аспірантів «Погляд у майбутнє приладобудування», 15-16 травня 2018 р., м. Київ, Україна : збірник статей / КПІ ім. Ігоря Сікорського, ПБФ. – Київ : Центр учбової літератури, 2018. – С. 274–276. – Бібліогр.: 4 назви.uk
dc.identifier.urihttps://ela.kpi.ua/handle/123456789/24195
dc.language.isoruuk
dc.publisherЦентр учбової літературиuk
dc.publisher.placeКиївuk
dc.sourceXІ Науково-практична конференція студентів та аспірантів «Погляд у майбутнє приладобудування», 15-16 травня 2018 р., м. Київ, Україна : збірник статейuk
dc.subject.udc532.217uk
dc.titleОбзор и анализ методов определения уровня жидкости в емкостиuk
dc.title.event«Погляд у майбутнє приладобудування», XІ Науково-практична конференція студентів та аспірантівuk
dc.typeArticleuk

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
PUMb_2018_Proceedings_p274-276.pdf
Розмір:
674.66 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
7.74 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Секція 4. Інформаційні технології, теорія і проектування систем вимірювання механічних величин, мікро- і нанопристроїв