Лабораторний стенд для дослідження характеристик напівпровідникових компонентів
Вантажиться...
Дата
2018
Автори
Науковий керівник
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
КПІ ім. Ігоря Сікорського
Анотація
Опис
Ключові слова
Бібліографічний опис
Грицевич, І. Р. Лабораторний стенд для дослідження характеристик напівпровідникових компонентів / Грицевич І. Р. // Радіоелектроніка у ХХІ столітті : матеріали І Всеукраїнської науково-технічної конференції студентів та аспірантів, 15-17 травня 2018 р., Київ, Україна / КПІ ім. Ігоря Сікорського, РТФ. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2018. – С. 18-19. – Бібліогр.: 2 назви.